Презентація на тему: "Лекція 14 Помилкові сигнали Помилкові сигнали виникають в результаті відображення УЗ-хвиль від виступів, отворів і інших елементів конфігурації виробів. Ці сигнали." - Транскрипт:
1 Лекція 14 Помилкові сигнали Помилкові сигнали виникають в результаті відображення УЗ-хвиль від виступів, отворів і інших елементів конфігурації виробів. Ці сигнали заважають виявленню дефектів лише в певних зонах вироби, не впливаючи на загальний рівень чутливості. Однак, як правило, саме в цих областях часто виникають дефекти через концентрацію напружень поблизу цих елементів поверхні. Типові види хибних сигналів 1. Найбільш часто зустрічається вид хибних сигналів відображення від ділянок об'єктів із змінним поперечним перерізом, наприклад, гантелей, валиків посилення зварного шва і т.д. У разі відображення поздовжніх хвиль виникають поперечні хвилі, які при повторному відображенні знову трансформуються в поздовжні хвилі і викликають появу додаткових хибних сигналів. Поперечні хвилі при падінні на поверхню під кутом більше другого критичного не трансформується в поздовжні і хибних сигналів не виникає. Тому довгі вироби з малим перерізом краще контролювати поперечними, а не поздовжніми хвилями. 2. Помилкові сигнали можуть виникати в результаті недзеркальних відображення ультразвуку, наприклад, при дифракційному розсіянні на ребрі двухгранний кута. При цьому виникають крайові хвилі, амплітуда яких залежить від форми поверхні поблизу ребра: чим різкіше зміна профілю, тим більше амплітуда крайових хвиль.
2 3. Помилкові сигнали спостерігаються також при наявності локально напружених зон в виробі. Виникнення цих хвиль пов'язано зі зміною швидкості звуку в напружених зонах вироби. 4. При контролі поздовжніми хвилями виробів з отворами або виточками на бічній поверхні будуть спостерігатися помилкові сигнали в результаті подвійного відображення від отвору і бічній поверхні. Ці відображення можуть бути прийняті за дефекти. 5. При контролі поздовжніми хвилями циліндричних виробів по боковій поверхні крім цього сигналу, будуть спостерігатися сигнали, що випробували дворазове відображення від стінок циліндра. Сигнал, відповідний відображенню поздовжньої хвилі без трансформації, буде спостерігатися на відстані 1,3, а сигнал, відповідний трансформації поздовжньої хвилі в поперечну, а потім знову в подовжню на відстані 1,67 дані наведені для сталі. Ці сигнали приходять після донного сигналу.
3 6. Помилки при визначенні амплітуди луна-сигналу. Пр контролі довгих виробів невеликого поперечного перерізу сигнал, відбитий від двогранного кута може підсумовуватися з донним і змінювати його амплітуду. Це станеться, якщо різниця шляхів до двох зазначених відбивачів буде менше тривалості імпульсу τ. Щоб цього не сталося необхідно виконання умови: Неврахування інтерференційних явищ призводить до того, що амплітуда луна-сигналу немонотонно зменшується з відстанню. В результаті залежність амплітуди від відстані, знята на відрізках з дефектами при різному їхньому становищі, не збігається з кривими АРД-діаграми. 7. Специфічні помилкові сигнали, пов'язані з поверхневою хвилею, порушуємо бічними пелюстками діаграми спрямованості. В даному випадку сигнали виникають в результаті відображення від країв вироби. При контролі роздільно-суміщеним перетворювачем помилковий сигнал виникає в результаті проходження поверхневої хвилі від випромінювача до приймача. (1)
4 7. Специфічні помилкові сигнали, пов'язані з поверхневою хвилею, порушуємо бічними пелюстками діаграми спрямованості. В даному випадку сигнали виникають в результаті відображення від країв вироби. При контролі роздільно-суміщеним перетворювачем помилковий сигнал виникає в результаті проходження поверхневої хвилі від випромінювача до приймача. Способи виявлення хибних сигналів Ефективний спосіб виділення хибних сигналів заснований на зміні їх амплітуди при натисканні пальцем або тампоном, змоченим маслом, на точку, в якій відбивається або через яку проходить промінь, що викликає помилковий сигнал. При цьому змінюються умови проходження хвилі, що реєструється по зміні амплітуди коливань хибних сигналів. Таким чином, добре демпфуються поверхневі хвилі, дещо гірше поперечні, ще гірше поздовжні. Практично не реагують на стиск поперечні хвилі, падають не демпфіруемую поверхню перпендикулярно. Час приходу хибних сигналів від поверхневих хвиль сильно залежить від переміщення перетворювача щодо краю вироби або випромінювача і приймача відносно один одного.
5 Способи виявлення хибних сигналів Ефективний спосіб виділення хибних сигналів заснований на зміні їх амплітуди при натисканні пальцем або тампоном, змоченим маслом, на точку, в якій відбивається або через яку проходить промінь, що викликає помилковий сигнал. При цьому змінюються умови проходження хвилі, що реєструється по зміні амплітуди коливань хибних сигналів. Таким чином, добре демпфуються поверхневі хвилі, дещо гірше поперечні, ще гірше поздовжні. Практично не реагують на стиск поперечні хвилі, падають не демпфіруемую поверхню перпендикулярно. Час приходу хибних сигналів від поверхневих хвиль сильно залежить від переміщення перетворювача щодо краю вироби або випромінювача і приймача відносно один одного. Гранична чутливість луна-методу Гранична чутливість луна-методу характеризується мінімальним розміром дефектів того чи іншого типу тріщина, пора, впевнено виявляються у виробах чи з'єднаннях. Її мірою служить площа S (мм 2) отвори з плоским дном, орієнтованого перпендикулярно акустичної осі перетворювача. Граничну чутливість визначають експериментально. Для цього отвору виконують на заданій глибині максимальній глибині контролю, в зразках з матеріалу, що контролюється. При цьому чистота і кривизна поверхні зразка повинна відповідати поверхні контрольованого об'єкта.
6 Амплітуду, відбитого від дефекту імпульсу можна оцінити за формулою
7 Оптимальним є напрямок, уздовж якого є мінімальна зміна пружних властивостей і яке відповідає мінімальних розмірів структурної неоднорідності. Наприклад, при контролі зварних швів це питання має важливе значення, якщо в звареному шві є дендритная структура. Загасання поперек зерен менше, ніж уздовж, а мінімальне загасання має місце під кутом 45º до осі кристалів. Фактори, що визначають граничну чутливість луна-методу Розглянемо, як впливають зазначені фактори на граничну чутливість контролю. 1. Вибір напрямку прозвучиванія має істотне значення, якщо структура матеріалу об'єкта контролю володіє переважною орієнтацією кристалів. 1 - область рівноосних кристалів; 2 - дрібнозернистий кірка, дендрити; 3 - зона стовпчастих кристалів
8
9
10
11